ホーム
組織紹介
保有技術
機器利用
共同研究
技術相談
 
 
 
 
 
 
 

分析電子顕微鏡

keirin
分析電子顕微鏡
担当部所材料・分析技術部 無機材料グループ
メーカ名日本電子株式会社
メーカ商品名/型式透過型電子顕微鏡/JEM-2010
性能・仕様加速電圧200kV、分解能0.194nm(粒子像)、0.14nm(格子像)、エネルギー分散型X線分析器付き(ウルトラthinウインドータイプ)
用途結晶性および非晶質材料の微細組織観察、およびその部分の結晶性に関する情報(電子線回折法)を得ると同時に微小部分の元素分析を行う。
対象試料金属・無機セラミックスなどの固体試料
設置年月1997年03月
利用料金1時間につき 4,300円
機器利用研修費初回に機器利用研修費5,000円が必要
注意事項
超高真空タイプのため、ガス発生の可能性がある試料は不可