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蛍光X線式膜厚計

 
蛍光X線式膜厚計
担当部所生産技術部 金属加工グループ
メーカ名フィッシャ-インストルメンツ(株)
メーカ商品名/型式X-RAY XDV-SDD
性能・仕様測定エリア X250mm×Y250mm、コリメ-タ 0.1,0.3,1.0,3.0mmφ
用途本装置は、蛍光X線分析法により、非破壊で迅速にめっき皮膜の厚さおよび合金めっき皮膜組成を調べることができる装置であり、特に、微小領域における多層めっき皮膜、合金めっき皮膜の厚さおよび合金組成を調べるのに役立つ。
対象試料めっき皮膜、金属材料
設置年月2013年3月
利用料金1時間につき1,100円
機器利用研修費初回に機器利用研修費2,000円が必要