ホーム
組織紹介
保有技術
機器利用
共同研究
技術相談
 
 
 
 
 
 
 

近接場光学顕微分光装置

近接場光学顕微分光装置
近接場光学顕微分光装置
担当部所材料・分析技術部 化学材料グループ
メーカ名日本分光㈱
メーカ商品名/型式近接場顕微分光装置/NFS-230HKG
性能・仕様○近接場プローブタイプ:ファイバー開口型  ○近接場測定モード:イルミネーション‐コレックション、イルミネーション、コレクション  ○近接場試料ステージ可動距離(測定時):XY 約50μm, Z 約15μm  ○近接場試料ステージ分解能:約5nm  ○最大試料サイズ:35×45×3mm  ○レーザ:532nm 50mW  ○CCD検出器   ○測定波長(波数)範囲:100~4000cm-1(ラマン),532~860nm (蛍光)  
用途高空間分解能での蛍光スペクトルおよびラマンスペクトル測定
対象試料固体(セラミックス、高分子材料等、レーザ照射により分解しない試料)
設置年月2013年3月
利用料金1時間につき3,100円(近接場測定の際には、近接場プローブをご持参ください。)
機器利用研修費初回に機器利用研修費4,000円が必要