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エネルギー分散型X線分析装置付走査型電子顕微鏡

keirin
エネルギー分散型X線分析装置付走査型電子顕微鏡
担当部所生産技術部 金属加工グループ
メーカ名日本電子株式会社
メーカ商品名/型式電界放出形分析走査電子顕微鏡/JSM-7001F
性能・仕様電子銃:サーマルFE電子銃 2次電子分解能:1.2nm(30kV), 3.0nm(1kV) 電動ステージ(70×50mm)、試料最大高さ:40mm X線検出器:シリコンドリフト検出器 (Be-Uを検出可能)
用途破断面の形状観察や、微小な異物の観察・成分分析、変色域の元素分析、材料の成分分析などが可能です。 また、線分析・面分析により、含まれる元素の分布を知ることが可能です。
対象試料金属,半導体,セラミックス,プラスチック等(非導電性の試料の場合、蒸着等の導電性処理が必要になることがあります。)
設置年月2009年02月
利用料金1時間につき3,000円
機器利用研修費初回に機器利用研修費5,000円が必要
注意事項
機器利用の場合は、最初に機器講習を受けていただきます。
(受講料5,000円と講習時間分の利用料金が必要です。)