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走査型プローブ顕微鏡

keirin
走査型プローブ顕微鏡
担当部所材料・分析技術部 化学材料グループ
メーカ名株式会社日立ハイテクサイエンス(旧SIIナノテクノロジー株式会社)
メーカ商品名/型式環境制御型ユニットE-sweep
性能・仕様検出系:光テコ方式 観察範囲:20μm□スキャナもしくは150μm□スキャナ 水平分解能:マイカの原子像観察可 測定モード:原子間力顕微鏡(AFM), ダイナミックフォースモード(DFM), 摩擦力顕微鏡(FFM), 位相モード(PM), マイクロ粘弾性顕微鏡(VE-AFM/DFM), 電流同時AFM,表面電位顕微鏡(KFM), 磁気力顕微鏡(MFM), 液中AFM/DFM, ナノインデンテーション 観察環境:大気圧〜真空下(1.0 x 10-5 Pa) 温度制御:-120(液体窒素使用)〜250℃
用途試料の表面形状を高分解能で観ることができ、表面粗さの評価や粒子解析も可能です。また、物理的性質(摩擦力、磁気力、表面電位、粘弾性)の分布状態を観察することができます。加えて、液中、真空中、低温状態、高温状態といった種々の環境下での観察にも対応しています。さらに、ナノインデンターを取付けることで、マイクロ/ナノオーダーでの表面の硬さ評価も可能です。
対象試料ゴム・プラスチック、有機/無機薄膜、半導体、磁気記録媒体、光記録媒体など
設置年月2011年9月
利用料金1時間につき3,100円
機器利用研修費初回に機器利用研修費5,000円
注意事項
・試料サイズは25 mmφ, 厚さ10 mm以内(ナノインデンテーションは厚さ5mm以内)
・試料表面の凹凸は、20μm□スキャナが1.5μm以下、150μm□スキャナが5μm以下
・カンチレバーは試料・測定モードに応じて各自で持参して下さい