ホーム
組織紹介
保有技術
機器利用
共同研究
技術相談
 
 
 
 
 
 
 

薄膜(回転対陰極式)X線回折装置

薄膜(回転対陰極式)X線回折装置
担当部所材料・分析技術部 無機材料グループ
メーカ名(株)リガク
メーカ商品名/型式SmartLab9kW 薄膜評価用試料水平型
性能・仕様出力:45kV、200mA(9kW) ターゲット:銅 入射角光学系:Cross Beam Optics、Ge2結晶、スキャンモード:θs/θd連動、θs、θd単独:対称スキャン 微小入射角スキャン、インプレーンスキャン、ゴニオメータ半径:300mm
用途結晶試料の同定・定量分析および結晶性評価。平行ビームの特徴を活かした微小入射角光学系での深さ方向分析、インプレーン光学系での極薄膜の構造評価
対象試料セラミックス、金属、高分子材料
設置年月2010年01月
利用料金1時間3,400円
機器利用研修費初回に受講料4,000円が必要。
注意事項
薄膜試料に限定