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分析電子顕微鏡

メーカー名 日本電子株式会社
メーカー
商品名/型式
透過型電子顕微鏡(TEM)/ JEM-2010
性能・仕様 加速電圧 200kV、分解能 0.194nm(粒子像)、0.14nm(格子像)、エネルギー分散型X線分析器付き(故障中・ウルトラ thin ウインドータイプ)
用途 結晶性および非晶質材料の微細組織観察、およびその部分の結晶性に関する情報(電子線回折法)を得ると同時に微小部分の元素分析を行う。
対象試料 金属・無機セラミックスなどの固体試料
利用料金 4,400円/時間
機器利用
研修費
受講料5,000円
設置場所 神戸
注意事項 超高真空タイプのため、ガス発生の可能性がある試料は不可。
EDS 故障のため、元素分析は実施できません。
設置年月 1997年3月
担当部署 材料・分析技術部 無機材料グループ
業務コード 3111100

本装置は公設工業試験研究所等における機械設備拡充事業等補助事業の補助を受けて設置しました。

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