蛍光X線式膜厚計

メーカー名	フィッシャ－インストルメンツ(株)
メーカー商品名/型式	X-RAY XDV-SDD
性能・仕様	測定エリア X250mm×Y250mm、コリメ－タ　0.1,0.3,1.0,3.0mmφ
用途	本装置は、蛍光Ｘ線分析法により、非破壊で迅速にめっき皮膜の厚さおよび合金めっき皮膜組成を調べることができる装置であり、特に、微小領域における多層めっき皮膜、合金めっき皮膜の厚さおよび合金組成を調べるのに役立つ。
対象試料	めっき皮膜、金属材料
利用料金	1,100円／時間
機器利用研修費	受講料2,000円
設置場所	神戸
注意事項
設置年月	2013年3月
担当部署	生産技術部金属・加工グループ
業務コード	3112020

めっき厚さ、膜厚測定、非破壊測定、蛍光X線