利用停止中の機器

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集束イオンビーム加工装置

装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置を用いた反射電子像観察、透過電子像観察は外部利用を停止します。 (2024/04/23~)
# 通常の FIB 加工処理(TEM 切片加工も含む)は実施可能です。

複合系材料インピーダンス測定装置

装置トラブルのため、しばらくの間、開放利用を停止します。(2024/1/26 ~)

拡散接合装置

装置トラブルのため、しばらくの間、開放利用を停止します。(2023/10/25 ~)

フローサイトメーター

装置トラブルのため、しばらくの間、開放利用を停止します。(2023/3/28 ~)

液体クロマトグラフ質量分析装置

装置トラブルのため、開放利用を停止しております。(2023/1/11 ~)
本装置は現在、復旧の見込みが立っておりません。
UPLC-MS もしくはUPLC-CAD (高分子材料分析システム)で代替可能かご検討して頂くか、他機関のご利用をご検討ください。

表面粗さ測定機

装置トラブルにより利用を停止しています。(2021/3/5~)