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機器情報
2021年03月31日
エネルギー分散型Ｘ線分析装置付走査型電子顕微鏡
の利用を
再開
します
2021年03月31日
レーザー回折式粒度分布測定装置
の利用を
再開
します
2021年03月05日
装置トラブル
のため
表面粗さ測定機
の利用を一時停止します
2021年01月22日
EMC 評価システムの保守点検に伴う使用停止について
EMC 評価システム
は
設備の保守点検
のため、2月1日(月)～26日（金）の間使用 することができません。
2019年04月01日
集束イオンビーム加工装置の機器利用再開のお知らせ
集束イオンビーム加工装置の保守作業が完了しましたので、開放利用を再開します。
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