機器情報
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- 装置トラブルのためフーリエ変換赤外分光光度計（iN-10）の外部利用を停止します iS-50は稼働しております。
- 示差走査熱量分析装置の外部利用を再開します
- 装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置の外部利用を一部停止します 装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置を用いた反射電子像観察、透過電子像観察の外部利用を停止します。
- マイクロX線CTスキャナーの外部利用を再開します
- 機器活用セミナー「高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置」～ICPの基礎と評価技術～ 公益財団法人JKA公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業により高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置を導入しました。開放機器としてご利用いただくにあたり、ICP分析に関するセミナーを実施します。（実施日：3月21日）
- 装置トラブルのため複合系材料インピーダンス測定装置の外部利用を停止します
- 装置トラブルのため拡散接合装置の外部利用を停止します
- ガスクロマトグラフ質量分析装置の外部利用を再開します。
- 集束イオンビーム加工装置の外部利用を再開します。
- 蛍光Ｘ線式膜厚計の外部利用を再開します。
- 集束イオンビーム加工装置の外部利用を再開します
- マイクロフォーカスＸ線透視装置の開放利用を再開します。
- X線マイクロアナライザーの外部利用を再開します。
- 装置トラブルのためフローサイトメーターの外部利用を停止します。
- 共焦点顕微鏡の外部利用を再開します。
- 機器活用セミナー「高感度振動試料型磁力計（VSM）」 ～磁性の基礎と評価技術～ 公益財団法人 JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」により高感度振動試料型磁力計（VSM）を導入し、令和5年4月から開放機器としてご利用いただく予定です。これにあわせ、磁性材料に関するセミナーを企画します。
- 装置トラブルのため液体クロマトグラフ質量分析装置の外部利用を停止します 本装置は現在、復旧の見込みが立っておりません。UPLC-MS もしくはUPLC-CAD (高分子材料分析システム)で代替可能かご検討して頂くか、他機関のご利用をご検討ください。
- 薄膜（回転対陰極式）Ｘ線回折装置の外部利用を再開します。
- レーザー回折式粒度分布測定装置の利用を再開します。
- 装置トラブルのため光散乱粒度測定装置の外部利用を停止いたします。