機器情報
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- バンバリー型ミキサーの利用を停止します 修理次期：未定
- 三次元形状スキャナー（デジタル造形システム）を導入しました
- 樹脂3Dプリンタ（デジタル造形システム）を導入しました
- イミュニティ評価システム一部試験不可について 対応不可：静電気放電/IEC61000-4-2（復旧時期未定）
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マイクロフォーカスＸ線透視装置の利用を停止します - 高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置の利用を停止します 修理完了見込み：未定
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マイクロフォーカスＸ線透視装置の利用を再開します - 薄膜（回転対陰極式）Ｘ線回折装置の利用を再開します
- 交流インピーダンス測定装置の利用を再開します
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EMC評価システム 一部試験不可について
対応不可：伝導イミュニティ/IEC61000-4-6
対応可：放射エミッション、雑音端子電圧、放射イミュニティ試験
アンプ修理見込み：2026年7月頃 -
交流インピーダンス測定装置利用停止のお知らせ - フーリエ変換赤外分光光度計（iS-50）の外部利用を再開します。
- 分析電子顕微鏡の外部利用を再開します
- 機器活用セミナー「全自動無縫製横編試作支援システム」 公益財団法人JKA公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業により全自動無縫製横編試作支援システムを導入しました。開放機器としてご利用いただくにあたり、活用セミナーを実施します。（実施日：3月13日）
- 装置トラブルのため共焦点顕微鏡の外部利用を停止します。
- 高機能ロックウェル硬さ試験機の外部利用を再開します。
- 装置トラブルのため高機能ロックウェル硬さ試験機の外部利用を停止します
- 集束イオンビーム加工装置の機能が復旧しました。 装置トラブルのためサービスを停止していた反射電子像観察、透過電子像観察の機能が復旧しました。
- 装置トラブルのためフーリエ変換赤外分光光度計（iN-10）の外部利用を停止します iS-50は稼働しております。
- 示差走査熱量分析装置の外部利用を再開します