機器情報
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- 装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置の外部利用を停止します。 機能の回復は10月2日（月）～を見込んでいます.
- 蛍光Ｘ線式膜厚計の外部利用を再開します。
- 集束イオンビーム加工装置の外部利用を再開します
- マイクロフォーカスＸ線透視装置の開放利用を再開します。
- X線マイクロアナライザーの外部利用を再開します。
- 装置トラブルのためフローサイトメーターの外部利用を停止します。
- 装置トラブルのためガスクロマトグラフ質量分析装置の外部利用を停止します。
- 共焦点顕微鏡の外部利用を再開します。
- 機器活用セミナー「高感度振動試料型磁力計（VSM）」 ～磁性の基礎と評価技術～ 公益財団法人 JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」により高感度振動試料型磁力計（VSM）を導入し、令和5年4月から開放機器としてご利用いただく予定です。これにあわせ、磁性材料に関するセミナーを企画します。
- 装置トラブルのため液体クロマトグラフ質量分析装置の外部利用を停止します
- 薄膜（回転対陰極式）Ｘ線回折装置の外部利用を再開します。
- 装置トラブルのためマイクロX線CTスキャナーの外部利用を停止します。
- レーザー回折式粒度分布測定装置の利用を再開します。
- 装置トラブルのため光散乱粒度測定装置の外部利用を停止いたします。
- 装置トラブルのため耐光性試験機（西脇・繊維工業技術支援センター）の利用を停止します。
- MEMS製作用 直接描画装置を設置しました 令和2年度 機械振興補助事業(JKA)の補助を受けて設置しました。 パソコン上で作画した任意の微細パターンを直接基板上の感光材に転写できる露光装置です。MEMSデバイスのフォトマスクの製作にご利用いただけます。
- 高分子材料分析システムを設置しました 令和3年度 機械振興補助事業(JKA)の補助を受けて設置しました。 プラスチック・ゴム等の分子量分布を測定します。 各種工業製品（固体試料や化粧品・工業系油脂・食品等の液体試料）に含まれる低分子有機化合物の分析が可能です。
- 装置トラブルのため耐光試験（姫路・皮革工業技術支援センター）の受付を停止します。
- 熱分析装置（示差走査熱量測定装置）の外部利用を再開します
- 高速Ｘ線回折測定システムの利用を再開します