機器情報
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- フーリエ変換赤外分光光度計（iS-50）が故障のため、外部利用を停止します。
- 分析電子顕微鏡の外部利用を再開します
- 機器活用セミナー「全自動無縫製横編試作支援システム」 公益財団法人JKA公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業により全自動無縫製横編試作支援システムを導入しました。開放機器としてご利用いただくにあたり、活用セミナーを実施します。（実施日：3月13日）
- 装置トラブルのため共焦点顕微鏡の外部利用を停止します。
- 高機能ロックウェル硬さ試験機の外部利用を再開します。
- 装置トラブルのため高機能ロックウェル硬さ試験機の外部利用を停止します
- 集束イオンビーム加工装置の機能が復旧しました。 装置トラブルのためサービスを停止していた反射電子像観察、透過電子像観察の機能が復旧しました。
- 装置トラブルのためフーリエ変換赤外分光光度計（iN-10）の外部利用を停止します iS-50は稼働しております。
- 示差走査熱量分析装置の外部利用を再開します
- 装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置の外部利用を一部停止します 装置トラブルのため集束イオンビーム加工装置を用いた反射電子像観察、透過電子像観察の外部利用を停止します。
- マイクロX線CTスキャナーの外部利用を再開します
- 機器活用セミナー「高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置」～ICPの基礎と評価技術～ 公益財団法人JKA公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業により高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置を導入しました。開放機器としてご利用いただくにあたり、ICP分析に関するセミナーを実施します。（実施日：3月21日）
- 装置トラブルのため複合系材料インピーダンス測定装置の外部利用を停止します
- 装置トラブルのため拡散接合装置の外部利用を停止します
- ガスクロマトグラフ質量分析装置の外部利用を再開します。
- 集束イオンビーム加工装置の外部利用を再開します。
- 蛍光Ｘ線式膜厚計の外部利用を再開します。
- 集束イオンビーム加工装置の外部利用を再開します
- マイクロフォーカスＸ線透視装置の開放利用を再開します。
- X線マイクロアナライザーの外部利用を再開します。